تحلیل کمی مواد با پراش سنجی پرتو x مقایهس روش آشنای استاندارد داخلی با روش جدید نسبت شیب ها

روش جدید رقیق سازی دوگانه برای تحلیل کمی فازها با پراش پرتو ایکس بدون ترسیم منحنیهای همسنجی

The new method of double dil ution can be used to a nalyse quantitatively all the phases of a multiphase system wit hout the need to construct calibration curves, and with as few as 2 or 3 mixtures prepa red for X-ray diffraction. A specific weight of the powdered specimen which is to be analysed, is mixed with a fixed proportion of internal standard. The standard can be any crysta ll ine...

تهیه و شناسایی کمپلکس پروپیون آمید - اکسالیک اسید به روش پراش سنجی پودری پرتو x

A propionamidc oxalic acid complex was prepared flOm propionamidc and oxalic aCid . It was a bright and hygroscopic compound with vcry low hardness and was accompanied with deformation in air at room temperature. lis X - ray powder diffraction data were collected by a computer diffractometer and was analyLCd by profile analysis tcchniqucs. The compound was crystallized in triclinic system...

تحلیل کامپیوتری داده های پراش سنجی و طیف سنجی پرتو x

Modern X-ray systems used in research are equipped with computers. To modernize the ava ilable systems which are not attached to such computers and in order to have a rapid access to the data extracted from the system. furnishing such systems seems necessary. In this paper a research conducted at the university ofTabriz to arrive at the above mentioned aims and to have an access to tbe re...

آنالیز کمی و تعیین مقادیر مواد بی شکل و بلوری Sio2 در مخلوط اوپال و کوارتز به روش کمی پراش سنجی پودر پرتو ایکس

X-ray diffraction (XRD) technique is commonly used for qualilative ana lysis of minerals, and has also been successfully used for quantitative measurements. In this research, the matrix fl ushing and a new X-ray diffraction method have been used for the determination of crystallinity and amorphous content of Opal and Quartz mixture. The PCAPD is used to detemline the quanti tative analysi...

کاربرد روش جدید برای حل مسئله پخش بار در سیستم‌های قدرت با نسبت بالای R/X

در یک سیستم قدرت مقدار راکتانس خط، عموماً بیش‌تر از مقدار مقاومت خط می‌باشد و درنتیجه روش‌هایی همچون روش نیوتن رافسون استاندارد و روش‌های مبتنی بر نیوتن رافسون، به‌راحتی در این سیستم‌ها همگرا می‌شوند. اما در حالت استفاده از جبران‌سازی سری همانند استفاده از خازن سری، میزان راکتانس خط کاهش پیدا می‌کند و درنتیجه نسبت R/X خط انتقال افزایش می‌یابد که در این حالت شرایط سیستم تغییر کرده و روش‌های مبتنی...

تهیه و بررسی ساختار بلوری Me2=Me24= (Sio4)3 با استفاده از پراش سنچجی پرتو X